Système AFM-IR IconIR classique
Description générale
Le système IconIR correspond à la dernière version de la technologie AFM-IR. Sa force réside dans la polyvalence et la stabilité offertes par les modes AFM avancés (PeakForce Tapping, Force Volume, Tapping, surface Sensitive).
Informations et documentation
Nom du microscope : IconIR, Bruker
Localisation : ICP, bâtiment 350
Liens et documentations : cnrs-musiics@cnrs.fr
Contact : cnrs-musiics@cnrs.fr
Caractéristiques techniques
Type de mesure : Photothermique
Gamme IR :
QCL 3010-2637 cm-1 et 1860- 757 cm⁻¹
Illumination : Par le dessus
Lasers IR : QCL
Résolution spatiale : 5-10 nm
Sensibilité en z: 3-4 nm
Taille minimum du scan : X x Y: 50 µm × 50 µm
Hauteur des échantillons : jusqu’à 5 cm
Dérive thermique : < 1 nm/min
Temps moyen d’acquisition d’un spectre : 40 sec
Temps moyen d’acquisition d’une cartographie IR : Quelques minutes à plusieurs heures (selon taille zone / pas de cartographie)
Mode d’imagerie : Contact, tapping, peak-force, force-volume
Contrainte : préparation des échantillons
