Système AFM-IR NanoIR2s
Description générale
Le nanoIR2-S est un système hybride combinant un module AFM-IR photothermique, un module s-SNOM pour une analyse chimique et optique à l’échelle nanométrique.
Informations et documentation
Nom du microscope : NanoIR2s, Anasys Instruments
Localisation : Ipanema
Liens et documentations : cnrs-musiics@cnrs.fr
Contact : cnrs-musiics@cnrs.fr
Caractéristiques techniques
Type de mesure : AFM : Photothermique, Optique : s-SNOM (scattering-type Scanning Near-field Optical Microscopy)
Gamme IR : 1350–1900 cm-1
Illumination : Par le dessus
Lasers IR : QCL
Résolution spatiale : Environ 50 nm
Taille du scan : 80×80 µm2
Hauteur max de l’échantillon : 1 cm
Dimension du plateau porte échantillon : 2 x 2 cm2
Temps moyen d’acquisition d’un spectre : Quelques secondes à 1 min selon la résolution et la gamme spectrale
Temps moyen d’acquisition d’une cartographie IR : 30 min à 1h
Modes d’acquisition: Contact, tapping, s-SNOM
Contrainte : préparation des échantillons à discuter en amont
