L’AFM-IR en mode tapping est le mode qui a permet d’explorer une plus large diversité d’échantillons.

Mode de fonctionnement :

En mode tapping, on fait osciller le levier dans l’air à l’une de ses fréquences de résonance. Dans cette configuration, la pointe est en contact intermittent avec la surface.

Recherche des résonances du levier :

• Réalisation d’un balayage en fréquence pour détecter les modes propres de résonance du levier dans l’air.
• Sélection d’un mode de résonance (de drive) : l’un pour l’analyse de la topographie (|f1|) et l’autre pour détecter le signal AFM-IR (f2)
• Illumination par un laser IR pulsé : L’échantillon est illuminé par une radiation IR tel que Flaser = |f1 – f2|
• Mesure des variations topographiques
• Mesure des oscillations provoquées par la dilatation thermique de l’échantillon.

Caractéristiques :

• Résolution latérale : Environ 10-20 nm
• Profondeur sondée < 100 nm
• La mesure de l’absorbance IR est identique à celle du mode surface sensitive