L’AFM-IR en mode contact (résonant) est le mode qui a révolutionné la spectroscopie infrarouge en la faisant entrer dans le domaine des nanosciences. Ce mode, particulièrement robuste, présente l’avantage de mesurer directement l’absorbance locale de l’échantillon, rendant ainsi les spectres parfaitement comparables aux spectres FTIR, et donc compatibles avec les différentes bases de données spectrales IR disponibles.

En mode de fonctionnement en contact, la pointe du levier reste en contact permanent avec la surface de l’échantillon pendant le balayage.

Son mode de fonctionnement est le suivant :

• Interaction permanente avec la surface : la pointe exerce une force constante sur la surface, maintenue par une boucle de rétrocontrôle.
• Illumination par un laser IR pulsé : L’échantillon est illuminé par une radiation IR tel que la fréquence du tir laser doit parfaitement correspondre à une des résonnance propres de contact de levier.
• Mesure de variations topographiques
• Mesure des oscillations amorties provoquées par la dilatation thermique de l’échantillon
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Caractéristiques :

• Résolution latérale : 20-100 nm
• Profondeur sondée : de 3 µ à 100 nm, dépendant de la résonnance